沪产正电子发射断层扫描诊断亮相捕捉头颈部***更精准

　　正电子发射断层扫描诊断仪成为新一代医用分子影像扫描诊断仪器，但技术由三大跨国公司垄断。上海生物医学工程研究中心自主研制的头颈部正电子发射断层扫描诊断仪，日前在工博会中科院展区中心位置首次亮相，其分辨率指标优于2.8毫米，较进口扫描诊断仪的4到5毫米提高不少。

　　此次亮相的国产正电子发射断层扫描诊断仪聚焦在头颈部专用。上海千人计划入选者、项目负责人谢舒平研究员介绍，脑和头颈部位的解剖结构复杂，对正电子发射断层扫描诊断成像技术和诊断图像分辨要求更高，国际上这类临床专用的商业产品一直处于空白，三大厂商所产则只能用于全身扫描。由于头颈部的外径较躯干更小，国产扫描环因此变得更轻便灵活，可以平移通过患者头颈部，而不必采用传统方式将患者平躺着送入扫描环，这也成为一项世界首创。